籽粒分析:粒数,粒长,粒宽,粒型,均匀度,平均粒长,平均粒宽,有胚尖粒数,面积,周长,直径,长宽比例,圆度,千粒重等;
截面分析:籽粒行数,轴粗,粒长,粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
整穗分析:果穗长度,穗粗,秃尖长,穗型,左右穗缘角,穗行角,平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
其他分析:千粒重,百粒重,籽粒产量。
籽粒分析:粒数,粒长,粒宽,粒型,均匀度,平均粒长,平均粒宽,有胚尖粒数,面积,周长,直径,长宽比例,圆度,千粒重等;
截面分析:籽粒行数,轴粗,粒长,粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
整穗分析:果穗长度,穗粗,秃尖长,穗型,左右穗缘角,穗行角,平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
其他分析:千粒重,百粒重,籽粒产量。
托普环控型植物生长表型分析系统可精准控制温度、湿度、光照强度、风速,应用于种子发芽、育苗、植物组培和栽培、微生物培养、昆虫、小动物的饲养、药品抗氧化试验及物品的环境试验;产品广泛用于农业科学、生物工程、医学研究、水产、畜牧等领域。