作物表型检测系统返回
  • 千粒重仪
  • 型号:V2.0
  • 概述:【托普云农】V2.0千粒重仪也叫千粒重测定仪,千粒重分析仪,利用图像识别,图像分割,图像处理等技术,能够检测种子形状,自动计算种子粒数和千粒重,可测量计数常见种子,包括玉米,水稻,小麦,大豆,油菜籽,花生,芝麻,绿豆,红豆,草籽等。
  • 大豆表型检测仪
  • 型号:TPD-BX-1
  • 概述:【托普云农】TPD-BX-1大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等大豆表型参数指标,这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
  • 玉米表型检测系统
  • 型号:TPY-BX-1
  • 概述:TPY-BX-1玉米表型检测系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标,这些高通量表型参数为玉米品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
  • 小麦表型检测系统
  • 型号:TPM-BX-1
  • 概述:TPM-BX-1小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标,这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。
  • 水稻表型检测系统
  • 型号:TPS-BX-1
  • 概述:【托普云农】TPS-BX-1水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标,系统广泛用水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种等领域。