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- 小麦表型检测系统
- TPM-BX-1
小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。
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- 植物蒸腾速率测定仪
- TPZT-1000
植物蒸腾速率测定仪可同时测量叶温、空气温湿度、光合有效辐射强度等指标计算出植物蒸腾速率，仪器体积小，重量轻，随身携带，单人操作，广泛用于大田作物、果树、蔬菜、牧草等多种植物不同形状叶片的测定。
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- 植物叶面积测定仪
- YMJ-B
植物叶面积测定仪能够精确、快速、无损伤地测量植物叶片的叶面积及相关参数，可也对采摘的植物叶片及其他片状物体进行面积测量，适用于农学、草业、林业、种业等相关专业及领域的农业研究。
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- 根系根瘤分析系统
- GXY-A plus
根系根瘤分析系统采用了图像识别技术，批量识别植物根系图像，快速分析植物根系根瘤性状、根瘤个数、根瘤直径、根瘤R/G/B、根系长度、直径、表面积、体积、植物根尖数等参数。
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- 植物抗倒伏测定仪
- TP-YYD-1B
TP-YYD-1B便携式植物抗倒伏测定仪适用玉米、甘蔗、高粱等倒伏值较大的作物，最大负荷500N，分辨率0.01N。
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- 玉米株型分析系统
- TPMT-X-1
玉米株型分析系统基于图像识别技术，能够实现玉米株型多参数一次性获取，替代传统手工测量，对于现代农业育种、涉农科研和农业生产有着巨大的推动作用。
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- 玉米表型检测系统
- TPY-BX-1
玉米表型检测系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标。
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- 大豆表型检测仪
- TPD-BX-1
大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等大豆表型参数指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
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- 植物根系扫描分析系统
- GXY-A
植物根系扫描分析系统基于图像识别技术，可分析植物根系的长度、直径、面积、体积、根尖数、分叉数、根交叉数等，还可分析植物根系的主侧根拓扑形态关系、连接关系，以及根尖部位的色彩变化，以便进行植物根系形态和构造研究。
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- 便携式叶面积测量仪
- YMJ-B
叶面积测量仪可以即时测量叶片的面积、周长、长度、宽度、长宽比、形状因子，可以测量离体和非离体叶片，具有操作简单，便于携带的特点，可广泛应用于农业、林业、园艺栽培与育种工作中叶片的生长分析等领域！
