产品图片产品名称型号产品概述
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- 水稻表型检测系统
- TPS-BX-1
水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标。系统广泛用水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种等领域。
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- 小麦表型检测系统
- TPM-BX-1
小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。
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- 玉米表型检测系统
- TPY-BX-1
玉米表型检测系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标。
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- 大豆表型检测仪
- TPD-BX-1
大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等大豆表型参数指标，这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。
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- 千粒重仪
- V2.0
V2.0千粒重仪利用图像识别，图像分割，图像处理等技术，能够检测种子形状，自动计算种子粒数和千粒重，可测量计数常见种子，包括玉米，水稻，小麦，大豆，油菜籽，花生，芝麻，绿豆，红豆，草籽等。
